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半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）【单选题】

时间：2021-06-29 01:05:01 解答: 55 次

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）

A. 可靠性测定试验

B. 可靠性鉴定试验

C. 可靠性验收实验

D. 环境应力筛选试验

正确答案：

D

参考解析：

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