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● 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中(39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 (39)

时间：2021-05-04 18:51:25 解答: 69 次

● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中（39）接口是 IC 芯片测试的标准接口。

（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB

正确答案：

B

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